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發(fā)布時(shí)間:2024-04-08
產(chǎn)品型號(hào):TESCAN VEGA
產(chǎn)品特點(diǎn):泰思肯VEGA鎢燈絲掃描電子顯微鏡,采用全新的 Essence™ 電鏡操控軟件系統(tǒng),將掃描形貌圖像與元素實(shí)時(shí)分析集成于同一個(gè)掃描窗口中。這種組合大大簡(jiǎn)化了樣品表面形貌的采集及含元素的數(shù)據(jù)分析工作,使得第四代 VEGA SEM 成為質(zhì)量控制、故障分析和研究實(shí)驗(yàn)室中常規(guī)材料等檢測(cè)提供更高效的分析的解決方案。
泰思肯VEGA鎢燈絲掃描電子顯微鏡,采用全新的 Essence™ 電鏡操控軟件系統(tǒng),將掃描形貌圖像與元素實(shí)時(shí)分析集成于同一個(gè)掃描窗口中。這種組合大大簡(jiǎn)化了樣品表面形貌的采集及含元素的數(shù)據(jù)分析工作,使得全新的第四代 VEGA SEM 成為質(zhì)量控制、故障分析和研究實(shí)驗(yàn)室中常規(guī)材料等檢測(cè)提供更高效的分析的解決方案。
*集成的 TESCAN Essence™ EDS 分析平臺(tái),在 Essence™ 電鏡操控軟件的單一窗口中即可實(shí)現(xiàn) SEM 成像和元素成分分析。
TESCAN 采用*的無(wú)機(jī)械光闌設(shè)計(jì),采用實(shí)時(shí)電子束追蹤(In Flight Beam Tracing™)的技術(shù),可幫助用戶快速獲得電鏡的成像及分析條件。
*的大視野光路(Wide Field Optics™)設(shè)計(jì),低至2倍的放大倍數(shù),無(wú)需額外的光學(xué)導(dǎo)航攝像頭即可輕松、實(shí)現(xiàn) SEM 導(dǎo)航。
SingleVac™ 模式作為標(biāo)準(zhǔn)配置,為觀測(cè)不導(dǎo)電樣品和電子束敏感的樣品提供便利的分析利器。
采用 3D 電子束技術(shù)(3D Beam Technology )可獲得實(shí)時(shí)立體成像。
在樣品臺(tái)及裝置的樣品運(yùn)動(dòng)過(guò)程中,Essence™ 3D防碰撞模塊可以直觀的顯示安裝腔室內(nèi)的探測(cè)器及樣品臺(tái)的位置信息,提供安全性的保護(hù)。
真空緩沖節(jié)能單元可顯著縮短機(jī)械泵的運(yùn)行時(shí)間,提供環(huán)保、高經(jīng)濟(jì)效益的電子顯微鏡。
模塊化分析平臺(tái),可選配集成多種類的探測(cè)器和附件(如陰極熒光探測(cè)器,水冷背散射電子探測(cè)器或拉曼光譜儀等)。
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